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  • DR-HAST-350hast加速老化試驗箱
    DR-HAST-350hast加速老化試驗箱

    hast加速老化試驗箱HAST(Highly Accelerated Stress Test)加速老化試驗箱是一種常用的設(shè)備,用于快速模擬產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的使用情況進行老化試驗。HAST加速老化試驗箱具有以下特點:溫度和濕度控制:HAST加速老化試驗箱能夠提供高溫高濕的環(huán)境,通常在105℃至150℃的溫度范圍內(nèi)進行測試,并可提供高濕度條件,濕度范圍可達85%至100%。通過精確的溫濕度控制

    更新時間:2024-10-15型號:DR-HAST-350瀏覽量:1079
  • DR-HAST-350芯片-HAST高壓加速壽命試驗箱
    DR-HAST-350芯片-HAST高壓加速壽命試驗箱

    芯片-HAST高壓加速壽命試驗箱是一種高溫高濕老化試驗設(shè)備,廣泛應用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測試領(lǐng)域。它通過模擬實際工作環(huán)境中的高溫高濕條件,加速產(chǎn)品老化過程,從而評估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測試周期短、操作簡單等特點,是目前常用的老化試驗設(shè)備之一。

    更新時間:2024-10-14型號:DR-HAST-350瀏覽量:1438
  • DR-HAST-350芯片-HAST高溫高壓加速老化試驗箱
    DR-HAST-350芯片-HAST高溫高壓加速老化試驗箱

    芯片-HAST高溫高壓加速老化試驗箱是一種高溫高濕老化試驗設(shè)備,廣泛應用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測試領(lǐng)域。它通過模擬實際工作環(huán)境中的高溫高濕條件,加速產(chǎn)品老化過程,從而評估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測試周期短、操作簡單等特點,是目前常用的老化試驗設(shè)備之一。

    更新時間:2024-10-14型號:DR-HAST-350瀏覽量:404
  • DR-HAST-350芯片-HAST高壓蒸煮儀
    DR-HAST-350芯片-HAST高壓蒸煮儀

    芯片-HAST高壓蒸煮儀是一種高溫高濕老化試驗設(shè)備,廣泛應用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測試領(lǐng)域。它通過模擬實際工作環(huán)境中的高溫高濕條件,加速產(chǎn)品老化過程,從而評估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測試周期短、操作簡單等特點,是目前常用的老化試驗設(shè)備之一。

    更新時間:2024-10-14型號:DR-HAST-350瀏覽量:455
  • DR-HAST-350芯片-HAST老化試驗箱
    DR-HAST-350芯片-HAST老化試驗箱

    芯片-HAST老化試驗箱是一種高溫高濕老化試驗設(shè)備,廣泛應用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測試領(lǐng)域。它通過模擬實際工作環(huán)境中的高溫高濕條件,加速產(chǎn)品老化過程,從而評估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測試周期短、操作簡單等特點,是目前常用的老化試驗設(shè)備之一。

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